• صفحه اصلی
  • جستجوی پیشرفته
  • فهرست کتابخانه ها
  • درباره پایگاه
  • ارتباط با ما
  • تاریخچه
تعداد ۹ پاسخ غیر تکراری از ۹ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۵۳ ثانیه یافت شد.

1. Active media technology :

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: Ning Zhong [and others] (editions.)

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Human-computer interaction, Congresses,User interfaces (Computer systems), Congresses,User-Computer Interface

رده :
T385

2. Electronic design automation

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: / edited by Laung-Terng Wang, Yao-Wen Chang, Kwang-Ting (Tim) Cheng.

کتابخانه: کتابخانه پردیس بین الملل كیش (دانشگاه تهران) (هرمزگان)

موضوع: Electronic circuit design--Data processing.,Computer -- aided design

رده :
TK
7867
.
E4227
2009

3. Electronic design automation :

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: edited by Laung-Terng Wang, Yao-Wen Chang, Kwang-Ting (Tim) Cheng.

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Computer-aided design.,Electronic circuit design-- Data processing.,Computer-aided design.,Electronic circuit design-- Data processing.

رده :
TK7867
.
E4227
2009

4. Speed Serial Links-Efficient Test Methodologies for High

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: / Ting Cheng-Dongwoo Hong, Kwang

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع: ELECTRONIC& ENGINEERING (uncategorised)|ENGINEERING, ELECTRICAL &COMPUTER SCIENCE

رده :
E-BOOK

5. Towards Data Reliable, Low-Power, and Repairable Resistive Random Access Memories

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: Ghofrani, Amirali

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع:

رده :

6. Unified methods for VLSI simulation and test generation

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: Cheng, Kwang- Ting, 1691-

کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)

موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction- Data processing,، Computer- aided design,، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing,، Integrated circuits- Very large scale integration- Computer simulation

رده :
TK
7874
.
C525
1989

7. Unified methods for VLSI simulation and test generation

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: by Kwang-Ting Cheng and Vishwani D. Agrawal

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اطلاع رسانی دانشگاه شاهد (تهران)

موضوع: Integrated circuits- Very large scale integration- Computer-aided design,Integrated circuits- Very large scale integration- Testing,Integrated circuits- Very large scale integration- Computer simulation

رده :
TK
،
7874
،.
C525
،
1989

8. Unitied methods for VLSI simulation and test generation

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: / by Kwang - Ting Cheng and Vishwani D. Agrawal,Cheng

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Integrated Circuits -- Very large scale integration -- Design and construction --,Computer - aided design,Integrated Circuits -- Large scale integration -- Testing,Integrated Circuits -- Vey large scale integation -- Computer simulation

رده :
TK
7874
.
C525
1989

9. VLSI test principles and architectures :

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex
  • RIS
  • Endnote
  • Refer

پدیدآورنده: edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen.

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Circuits intégrés à très grande échelle-- Conception et construction.,Circuits intégrés à très grande échelle-- Essais.,Circuitos integrados vlsi.,COMPUTERS-- Logic Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Design.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- Logic.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- VLSI & ULSI.,Testen,VLSI

رده :
TK7874
.
75
.
V587
2006eb
  • »
  • 1
  • «

پیشنهاد / گزارش اشکال

اخطار! اطلاعات را با دقت وارد کنید
ارسال انصراف
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال